현미경미분간섭차장치
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | PSIA |
모델명 | E800-DIC |
장비사양 | |
취득일자 | 2003-12-17 |
취득금액 |
보유기관명 | 서울대학교 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | Contact and noncontact mode 모두 사용 가능함. 단 tip은 그에 맞게 별도 부착을 해주어야 함.z축 방향: sub nm 수준 까지 측정 가능 x-y 방향: nm 수준 까지 측정 가능합니다. Acoustic noise sheilding box optic-laser head part x-y plane scanner actvie antivibration module main body and computer for operating AFM.SrTiO3와 같은 기판의 열처리 전후의 표면상태 비교 나노 패턴한 구조의 상태 확인. 디자인과 동일한지 여부. 나노 구조의 높이 확인 |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110120095523.jpg |
장비위치주소 | 서울 관악구 대학동 서울대학교 산 56-1 서울대학교 22동 (자연과학대학) 4층 416 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2006-10-042468 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0006645 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |