이빔리쏘그래피
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Raith |
모델명 | Raith 150-two |
장비사양 | |
취득일자 | 2009-06-24 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국과학기술연구원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | C501 |
표준분류명 | 기타 |
시설장비 설명 | 특징 - 나노스케일의 패턴 및 구조물을 형성 하기위한 장비로서, 10nm급 디바이스 제작 20nm 정밀 Overlay를 구현 하기 위해 반드시 필요한 장비이며 또한 상기 나노 디바이스 및 마이크로 디바이스 제작시 필요한 마스크를 제작할 수 있는 장비임 |
장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201308/2013082018333208.jpg |
장비위치주소 | 한국과학기술연구원 L6 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2009-10-072928 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-201903127069 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |