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장비 및 시설 기본정보
고성능 성분분석 전계방사형 투과전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Fei Company |
| 모델명 | 모델명 없음 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2015-09-25 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국화학연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 원리 및 특징 ○ 투과전자현미경을 사용하여 재료의 표면 형상, 적층결함, 계면 등을 직접 관찰함에 따라 이들이 재료의 제반물성과 특성에 미치는 영향을 정확하게 규명할 수 있음 ○ 전자 회절로서 결정의 격자상수와 대칭성 등을 규명할 수 있으며 특히, 고성능 투과전자현미경을 이" |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201510/2015102211154912.JPG |
| 장비위치주소 | 한국화학연구원 10연구동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2015-10-205656 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-201701200149 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |