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장비 및 시설 기본정보
주사전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Hitachi |
| 모델명 | S-3400N |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2009-12-08 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국건설기술연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | - 전자현미경은 투과전자현미경(TEM)과 주사전자현미경(SEM)으로 구분하며 TEM은 주로 생물학 및 전자재료 등 박막 재료의 투과를 통한 분석을 실시하는 분석기이며 SEM은 표면의 상을 확대하여 보는 장비입니다. - 본 장비는 NORMAL SEM으로 연구원에서 필요한 거의 모든 분야의 분석이 가능하며 특히 석면 분석에 적합한 장비입니다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201307/2013072215718549.jpg |
| 장비위치주소 | 한국건설기술연구원 건설재료실험동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2013-07-181221 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-KICT-00025 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |