데스크탑 SEM
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | 쎄크(Sec) |
모델명 | SNE-1500M |
장비사양 | |
취득일자 | 2010-05-10 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국원자력연구원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A206 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 1) 특징 - 사용 절차를 간소화시킨 주사전자현미경(Scanning Electron Microscopy)으로써, 저배율 관찰용으로 적당함. - 핵물질 취급 시설 내에서 핵물질 시편을 간편하게 관찰하는 용도로 사용함. - 핵물질 시편 사용으로 인하여, 챔버 내가 오염될 수 있음. 따라서 비핵물질 시편은 가급적 사용하지 않음. 2) 구성 및 성능 - 진공챔버, 챔버 내 스테이지, 터보펌프 등으로 구성됨. - 최대 분해능 15nm - 배율 x50 ~ x15,000 (양질의 이미지는 x3,000 ~ x5,000) - 가속전압 5kV ~ 20kV 3) 사용 방법 - 챔버 내의 스테이지에 전기전도가 가능하도록 백금코팅 등의 방법으로 적절하게 처리된 시편을 올려놓고, 진공 상태에서 시편에 대한 미세관찰을 수행함. |
장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201101/20110121142548.jpg |
장비위치주소 | 한국원자력연구원 본관동 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2010-07-080446 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0054023 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |