표면 제타 전위 측정기
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Otsuka Electronics |
모델명 | ELS-Z |
장비사양 | |
취득일자 | 2011-12-26 |
취득금액 |
보유기관명 | 광주과학기술원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | B701 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 입자의 분산 응집성 상호작용의 지표가 되는 제타 전위 및 입경분포를 동적 및 전기영동 광산란법으로 측정하는 제타전위 입경측정 시스템으로서 저농도계의 초미립자에서 평판 시료까지 다채로운 샘플을 측정할 수 있습니다. 계면화학 무기물 반도체 고분자 환경분야 등에서 사용되는 입자뿐만 아니라 필름 및 평찬 상태의 시료의 표면과학을 취급하는 기초연구 응용연구에 많이 이용되는 장비입니다.-기존의 희석용액에 이어 고농도 용액의 제타 전위와 입경 입경분포의 측정이 가능. -입경범위(0.6nm~7μm 농도범위(0.001%~10%)에 대응 -전기침투류를 실측으로 신뢰성이 높은 제타 전위의 측정이 가능 -평판시료용 셀(옵션)을 사용한 평판 필름상태의 sample의 측정에도 대응 -저유전률 용매에 분산된 입자의 zeta potential 측정이 가능 |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201201/.thumb/20120105143036.JPG |
장비위치주소 | 광주 북구 오룡동 광주과학기술원 1 광주과학기술원 환경공학동 3층 317 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2012-01-152194 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0030771 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |