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장비 및 시설 기본정보

주사탐침현미경

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Psia
모델명 XE100
장비사양
취득일자 2003-04-30
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국과학기술연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 A208
표준분류명 기타
시설장비 설명 특징 1. 마이크로머시닝(Micromachining)으로 제작된 극히 미세한 탐침을 시료표면 가까이 가져갔을 때 생기는 원자간의 상호 작용력을 측정함으로써 시료표면의 3차원적 형상을 알아내는 장비임. 2. 광학현미경의 배율이 최고 수천 배이고 전자현미경(SEM)의 배율은 최고 수십만 배인데 비해서 원자현미경의 배율은 초고 수천만 배로서 개개의 원자까지도 관찰할 수 잇는 분해능력을 가지고 있음. 3. 전자현미경(SEM)과 투과식 전자현미경 (TEM)은 진공 상태에서 2차원 형상만 측정 할 수 있는데 비해 원자현미경은 시료표면의 전처리 과정없이 즉 도체 반도체 및 부도체에 상관 없이 3차원 형상을 측정 하므로써 폭 높이 각도 거칠기 등 3차원 정보를 얻을 수 있음. 4. 진공 대기 중 뿐 아니라 액체 내에서도 작동하므로 살아있 는 세포의 구조나 세포 분열 등을 관찰 할 수 있으며 또는 시료의 전기적 자기적 물리적 특성 물질 상호 반응 현상 측정 및 미세한 시료 표면 형 상의 변형(Nanolithography Nanomanipulation) 기능도 갖고 있음. 5. 마이크로 매니퓰레이션 기술개발 과제에서 수행하고 잇는 마이크로 부품 조 립의 심화과제로서 나노 기능성 분자 및 DNA와 같은 생체고분자의 매니퓰레이션에 필수적인 장비임.
장비이미지코드 http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201310/20131024142527749.jpg
장비위치주소 한국과학기술연구원 청정연구동(L6)
NFEC 등록번호 NFEC-2003-10-028119
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0049888
첨부파일

추가정보

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과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)