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장비 및 시설 기본정보

표면단자측정기

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Aep
모델명 NanoMap LS
장비사양
취득일자 2010-12-27
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 광주과학기술원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 F202
표준분류명 시험
시설장비 설명 이 장비는 Sample 표면의 형상 특히 단차(두께) 및 거칠기 등을 측정하고 기록하는 장치로 높은 정밀성과 재현성을 등을 요구하는 정밀 측정 분야나 연구용으로 많이 사용되고 있는 표면 단차(두께) 측정기 이다. 또한 이 장비는 Piezo Scanner를 이용한 장비로 높은 정밀성과 재현성을 갖추고 있으며 Sample 표면의 형상을 3차원 형상화 할 수 있어 표면의 두께 및 거칠기 뿐만아니라 형상까지 볼 수 있는 우수한 성능의 표면단차 및 형상측정기이다. a. 5Å의 재현성을 가지고 있는 우수한 성능의 단차측정기 b. 1Å의 Resolution과 Stage Tilting 기능 보유 c. 최대 524um 까지 측정 가능한 Vertical Range(Z) d. 3-D Rendering S/W(SPIP) 탑재로 표면 형상 측정 가능 e. 100mm x 100mm Long Scan 측정 가능 f. 0.1mg~10mg까지 변환(Programmable) 가능한 Stylus Force Range로 Hard한 Film 뿐만아니라 Soft한 Film도 Sample의 손상이 없어 측정이 가능함
장비이미지코드 http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201101/20110114111850.JPG
장비위치주소 광주과학기술원 신재생에너지연구동
NFEC 등록번호 NFEC-2011-01-133487
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0021828
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)