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장비 및 시설 기본정보

3차원 광학 표면 형상 측정기

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Bruker
모델명 ContourGT-K
장비사양
취득일자 2016-10-26
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국과학기술원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 A201
표준분류명 분석
시설장비 설명 ● Contour GT-K는 독립적으로 사용할 수 있는 3D 광학 표면 분석 시스템 ● 간섭계 렌즈의 원리를 사용하여 빛이 샘플에서 반사되는 파장과 반사거울에서 반사되는 파장을 카메라로 찍어 30년간 축척 된 기술로 다양하고 정교한 알고리즘 분석으로 0.01nm부터 10mm의 범위에서 표면에 대한 다양한 정보를 정확하게 측정할 수 있음 ● 이 시스템은 기존의 원자현미경으로 측정하던 nm수준의 수직분해 능을 수십~수백 배 이상 빠른 속도로 측정할 수 있으며 기존 원자현미경의 한계인 수 um 이상의 시료에 대해서도 10mm 단차 까지 측정을 할 수 있으며 수십 um의 영역 뿐만 아니라 원자현미경으로 접근하기 어려운 수 mm의 넓은 영역도 측정할 수 있어 다양하고 광범위한 용도로 사용되고 있음 ● 배율을 간편하게 선택하실 수 있게 간섭렌즈가 터렛 타입으로 구성되어 있고 확대 렌즈 또한 버튼 한번 클릭으로 3가지 배율을 간편하게 선택할 수 있음
장비이미지코드 http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201702/20170207145016699.JPG
장비위치주소 한국과학기술원 W8-1/중앙분석센터
NFEC 등록번호 NFEC-2017-02-236156
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-201712181138
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)