3차원 광학 표면 형상 측정기
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Bruker |
모델명 | ContourGT-K |
장비사양 | |
취득일자 | 2016-10-26 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국과학기술원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A201 |
표준분류명 | 분석 |
시설장비 설명 | ● Contour GT-K는 독립적으로 사용할 수 있는 3D 광학 표면 분석 시스템 ● 간섭계 렌즈의 원리를 사용하여 빛이 샘플에서 반사되는 파장과 반사거울에서 반사되는 파장을 카메라로 찍어 30년간 축척 된 기술로 다양하고 정교한 알고리즘 분석으로 0.01nm부터 10mm의 범위에서 표면에 대한 다양한 정보를 정확하게 측정할 수 있음 ● 이 시스템은 기존의 원자현미경으로 측정하던 nm수준의 수직분해 능을 수십~수백 배 이상 빠른 속도로 측정할 수 있으며 기존 원자현미경의 한계인 수 um 이상의 시료에 대해서도 10mm 단차 까지 측정을 할 수 있으며 수십 um의 영역 뿐만 아니라 원자현미경으로 접근하기 어려운 수 mm의 넓은 영역도 측정할 수 있어 다양하고 광범위한 용도로 사용되고 있음 ● 배율을 간편하게 선택하실 수 있게 간섭렌즈가 터렛 타입으로 구성되어 있고 확대 렌즈 또한 버튼 한번 클릭으로 3가지 배율을 간편하게 선택할 수 있음 |
장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201702/20170207145016699.JPG |
장비위치주소 | 한국과학기술원 W8-1/중앙분석센터 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2017-02-236156 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-201712181138 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |