반도체 측정시스템
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | 엠에스테크 |
모델명 | MST-1000H |
장비사양 | |
취득일자 | 2016-04-26 |
취득금액 |
보유기관명 | 재료연구소 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | D107 |
표준분류명 | 계측 |
시설장비 설명 | 전이금속 다이찰코지나이드계열의 2차원 나노소재는 매우 광범위하고 다양한 전기적 특성(절연체, 반도체, 금속성)을 가지고 있어, 넓은 영역의 전류 측정이 가능하며 동시에 높은 정밀성을 보장하는 계측장비를 필요로 한다. 또한 도입하고자 하는 반도체 측정 장비는 추가 계측 시스템(예: 캐패시턴스, 펄스발생기 등)의 확장이 용이하여 전기전자소자의 다양한 물성 인자를 추출하기 위한 패키지 솔루션 장비를 구축할 수 있다. 타 측정 장비와의 호환성이 뛰어나며 자체 개발한 소프트웨어 플랫폼을 이용하여 측정 프로그램을 원하는 형태로 바꿀 수 있다. |
장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201604/20160428111144386.jpg |
장비위치주소 | 재료연구소 연구3동 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2016-04-209368 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-202005292201 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |