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장비 및 시설 기본정보
박막타원편광분광분석시스템
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | J.a.woollam |
| 모델명 | M-2000U |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2015-09-08 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국에너지기술연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | F302 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 본 장비는 박막에 빛을 조사한 후 반사되는 빛의 편광상태 변화를 감지하여 물성을 분석하는 장비로서, 차세대 전지 재료의 전기적 특성 분석을 위해 필수적으로 요구되는 장비임. 반도체 재료의 가장 중요한 요소인 광학적 천이, 밴드갭, 표면거칠기, 밀도 등의 특성을 이해하고 소자 손실요인을 분석하는 핵심적인 장비 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201509/20150909102653964.jpg |
| 장비위치주소 | 한국에너지기술연구원 자연과학관102동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2015-09-204760 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0058356 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |