기업조회

본문 바로가기 주메뉴 바로가기

장비 및 시설 기본정보

원자탐침현미경

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Veeco
모델명 Dimension Edge
장비사양
취득일자 2010-07-06
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국과학기술연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 A208
표준분류명
시설장비 설명 Dimension Edge는 Large Stage AFM System으로 최대 150mm 시료를 바로 탑재하여 작업을 할 수 있는 System으로 Biology Polymer Material Semiconductor와 그 외 다양한 분야에서 시료의 물리적/전기적 특성 측정과 NanoScale의 표면측정 장비임. 특히 멤브레인 연구와 관련해서 Fluid안에서 가장 선명한 데이터를 얻을 수 있는 Fluid TappingMode™ 와 Force Modulation을 이용한 실험이 가능하여 기존 장비에서는 얻기 힘들었던 실시간으로 시료의 3차원 형상을 가능하게 한 장비이다.Scanning Probe Microscope XYZ Closed-Loop Application Module-ready SPM Scan Head Air Vacuum Module Kit High Efficiency Direct Drive TappingMode Cantilever Holder for Scanning in Fluid with SPM Vibration Table을 제공하고 있다.표면 거칠기를 AFM(Atomic Force Microscope)으로 측정 할 수 있다. AFM에서는 텅스텐으로 만든 바늘 대신에 마이크로머시닝으로 제조된 캔틸레버(Cantilever)라고 불리는 작은 막대를 쓴다. 캔틸레버는 길이가 100μm 폭 10μm 두께 1μm로서 아주 작아 미세한 힘에 의해서도 아래위로 쉽게 휘어지도록 만들어졌다. 또한 캔틸레버 끝 부분에는 뾰족한 바늘이 달려 있으며 이 바늘의 끝은 원자 몇 개 정도의 크기로 매우 첨예하다. 이 탐침을 시료 표면에 접근시키면 탐침 끝의 원자와 시료표면의 원자 사이에 서로의 간격에 따라 끌어당기거나(인력) 밀치는 힘(척력)이 작용한다. Contact mode의 AFM에서는 척력을 사용하는데 그 힘의 크기는 1~10 nN 정도로 아주 미세하지만 캔틸레버 역시 아주 민감하므로 그 힘에 의해 휘어지게 된다. 이 캔틸레버가 아래위로 휘는 것을 측정하기 위하여 레이저 광선을 캔틸레버에 비추고 캔틸레버 윗면에서 반사된 광선의 각도를 포토다이오드(Photodiode)를 사용하여 측정한다. 이렇게 하면 바늘 끝이 0.01nm 정도로 미세하게 움직이는 것까지 측정해낼 수 있다. 바늘 끝의 움직임을 구동기에 역되먹임(feedback)하여 AFM의 캔틸레버가 일정하게 휘도록 유지시키면 탐침 끝과 시료사이의 간격도 일정해지므로 STM의 경우에서와 같이 시료의 형상을 측정해낼 수 있다. Non-contact mode의 AFM에서는 원자사이의 인력을 사용하는데 그 힘의 크기는 0.1- 0.01 nN 정도로 시료에 인가하는 힘이 contact mode에 비해 훨씬 작아 손상되기 쉬운 부드러운 시료를 측정하는데 적합하다. 원자간 인력의 크기가 너무 작아 캔틸레버가 휘는 각도를 직접 잴 수가 없기 때문에 non-contact mode에서는 캔틸레버를 고유진동수 부근에서 기계적으로 진동 시킨다. 시료표면에 다가가면 원자간의 인력에 의해 고유진동수가 변하게 되어 진폭과 위상에 변화가 생기고 그 변화를 lock-in amp로 측정한다. 원자간에 상호 작용하는 힘은 시료의 전기적 성질에 관계없이 항상 존재하므로 도체나 부도체 모두를 높은 분해능으로 관찰 할 수 있다.또한 AFM은 다른 현미경 SEM(Scanning Electron Microscope)이나 TEM (Transmission Electron Microscope)처럼 미세구조를 관찰할 수 있으며 직접 탐침이 스캔을 하기 때문에 표면의 거칠기를 측정할 수 있는 장점이 있다. 표면 거칠기가 크다는 것은 측정하기자 하는 샘플 표면에 Floulant들이 Peak and valley 사이에 끼여 Fouling을 유발할 수 있음을 말한다. 본 실험에서 사용된 장비는 Dimension Edge는 수중에 있는 멤브레인 표면도 측정이 가능하다. 따라서 Fouling이 발생한 멤브레인을 건조없이 표면을 측정할 수 있어 멤브레인 표면에 Foulant들의 Formation을 관찰할 수 있다. 또한 캔틸레버에 특정 Particle을 붙여 Particle과 멤브레인 사이에 Interaction force를 측정하여 어떠한 Particle이 멤브레인에 Fouling
장비이미지코드 http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201110/.thumb/20111020174852.jpg
장비위치주소 서울 성북구 월곡2동 과학기술연구원 39-1번지 한국과학기술연구원 연구동(L5) 1층 L5142
NFEC 등록번호 NFEC-2010-08-082153
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0018799
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)