탐침(원자간력) 현미경
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | 파크시스템스 |
모델명 | XE-100 |
장비사양 | |
취득일자 | 2003-12-17 |
취득금액 |
보유기관명 | 광주과학기술원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A208 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 분자간력을 이용하여 반도체 표면을 전자현미경보다 더 좋은 해상도로 볼 수 있는 장비로써 높은 수준의 해상도를 요구하는 실험에서는 꼭 필요로 하는 장비입니다. 반도체 표면 위에 탐침을 위치시키고 분자간의 차이로 인한 탐침의 움직임을 컴퓨터로 분석함으로써 표면을 가시화할 수 있습니다. |
장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201101/20110124175404.jpg |
장비위치주소 | 광주과학기술원 정보통신공학부A |
NFEC 등록번호 | NFEC-2011-01-135924 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0023576 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |