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장비 및 시설 기본정보
입도분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Microtrac |
| 모델명 | S3500 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2008-06-30 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | (주)이노칩테크놀로지 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B702 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 1. 특징 - Wide Range : Tri-Laser system을 사용 최적의 각도에서 3개의 반도체 레이저를 입자에 조사 산란된 광을 0~180도에 가까운 범위에 걸쳐 빠짐없이 검출하여 0.02~2800um의 광범위한 측정 Range를 실현. 또한 검출기는 150개의 Detector Segment가 면 검출 구조로 구성되어 128채널의 뛰어난 Resolution 및 Sensitivity 특성을 나타냄. - Laser 회절법에 의한 입도분석기에서는 Laser광을 입자에 조사하여 산란된 입자경 정보를 일정 각도마다 검출 연산 처리하여 입도분포를 측정. 큰 입자의 입자경은 전방 각도의 산란정보에서 미립자의 입자경은 측방 산란 정보에서 초미립자의 입자경은 후방 산란 정보로부터 Data를 얻을 수 있음. Microtrac사의 Tri-Laser System은 연속된 면을 갖는 Array Detector에 의해 0~180도의 전방에서 후방까지 거의 모든 각도에 걸쳐 산란광을 검출하여 정확하고 신뢰성 있는 입도분포를 얻을 수 있음.2. 측정 원리 - 마이크로 대역 : Laser light diffraction & Mie Scattering - 나노 대역 : Dynamic light scattering 3. 구성 및 성능 - Microtrac : 0.02um ~ 3000um - Nanotrac : 0.8nm ~ 6500nm4. 활용분야 : 각종 분말 및 슬러리 등의 입도 분석 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110104140648.jpg |
| 장비위치주소 | 경기도 안산시 단원구 원시동 769-12 (주)이노칩테크놀로지 부설연구소 3층 분석실 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2009-10-074705 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0016742 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |