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장비 및 시설 기본정보
저온측정장비
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Nano Magnetics Instrument |
| 모델명 | LT-MFM/AFM/SHPM system |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2009-11-01 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 성균관대학교 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A200 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | we use a micro/nano-fabricated Hall sensor to measure the local magnetic flux density across the sample surface. The sensor is brought into close proximity of the sample surface using STM or AFM positioning techniques. We achieved 50nm lateral resolution at 300K. Quantitative & Non-invasive magnetic measurements with Scanning Hall Probe Microscopy with up to 50 nm spatial resolution Multi-Mode: AFM MFM STM EFM options. Real time scanning with SHPM Image Local magnetic fields with unprecedented sensitivity: 60nT/√Hz@77K 6nT/√Hz@4.2K Fits into almost any cryostat: 23.6 mm or 25.4 mm OD Realtime scans (~1 frame/second) to investigate dynamic magnetic phenomena Large scan area at 4.2 K : 16�m x 16�m Optional 6�m x 6�m and 1.5 �m x 1.5 �m scan areas. 3mm range X-Y Positioners 저온에서 나노 이미지 형성 및 나노 입자의 전자전송 특성을 측정하기 위한 장비임 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201110/.thumb/20111005160958.jpg |
| 장비위치주소 | 경기 수원시 장안구 천천동 성균관대학교자연과학캠퍼스 300번지 성균관대학교 자연과학캠퍼스 제1공학관 1층 21116C |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2010-06-079890 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0017768 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |