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장비 및 시설 기본정보

XRF 성분분석기

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Seiko Instruments
모델명 SEA1000A
장비사양
취득일자 2008-06-17
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국생산기술연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 B522
표준분류명 분석
시설장비 설명 ㅇ 원리 및 특징 - 형광X선 분석법을 원리로 하여 고체·분말·액체 시료에 포함되어 있는 원소의 정성·정량 분석 - 시료 중의 알루미늄(Z=13) ∼ 우라늄(Z=92)의 다 원소 동시 분석 - 유럽의 WEEE 및 RoHS지령에 대응하여 플라스틱 내의 Cd Pb등 유해 금속을 수 ppm까지 측정 - 최대 5층까지의 금속 도금의 두께를 비접촉 비파괴 방식으로 빠르고 정밀하게 측정
장비이미지코드 http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201712/20160928102817_20090108000000042329 NFEC-2009-01-069365.jpg
장비위치주소 한국생산기술연구원 PP1동
NFEC 등록번호 NFEC-2009-01-069365
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-kitech-00534
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)