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장비 및 시설 기본정보
고분해능 X-선 회절 분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Rigaku |
| 모델명 | SmartLab |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2012-12-19 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국화학연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B520 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | "고분해능 X-선 회절분석기는 높은 파워를 낼 수 있는 회전식 X-선관, 정밀한 각도 분해능을 가진 단결정과 같은 다양한 optics, 그리고 phi, chi, 2theta/chi 등의 다양한 회전축을 갖춘 고니오미터로 구성되어 있다. 고도로 단색화된 X선과 고니오미터의 여러 회전축을 이용하여 수 백 nm 이하의 얇은 박막에 대해서 기판의 강도는 최소화하고 박막의 강도는 향상시켜서 박막과 기판의 우선배향성, 방향성관계, 격자 왜곡과 같은 3차원적 박막 구조의 정보를 얻을 수 있다. 또한 고온 장치를 장착하여 온도 상승에 따른 물질의 구조적 상전이를 측정할 수 있다. 본 장비는 XRR, Rocking curve, RSM, In-plane, SAXS, HT-XRD 등의 다양한 분석법에 적용가능하다." |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images/equip/photo/.thumb/XOY85tBldtyyFcGrqarR_w600.jpg |
| 장비위치주소 | 한국화학연구원 연구10동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2013-02-174996 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-KRICT_PA-00129 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |