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장비 및 시설 기본정보

전계방사형 주사전자현미경

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Jeol
모델명 JSM-6700F
장비사양
취득일자 2001-06-15
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 재료연구소
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 A206
표준분류명 시험
시설장비 설명 The JSM-6700F is a field emission scanning electron microscope (FESEM) capable of SEI resolutions down to 1 nm and magnification of x25 to x650,000. The JSM-6700F FESEM incorporates a cold cathode field emission gun, ultra high vacuum, and sophisticated digital technologies for high resolution high quality imaging of nanostructures. Featuring a conical FE gun and a semi-in-lens objective lens, the system is capable of high resolution imaging as well as high quality real time image display at all scan speeds, enabling observation and recording of superior images even in a bright room. The JSM-6700F is able to handle samples up to 8 inches in diameter. The JSM-6700F is a super intelligent PC SEM assuring compatibility with future computer technologies. Its unique graphical user interface controls condition setup, motor stage drive, imaging, and data filing, assuring stable and reliable operation.
장비이미지코드 http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201712/20160823102349_200702069929 NFEC-2002-05-021235.jpg
장비위치주소 재료연구소 연구4동
NFEC 등록번호 NFEC-2002-05-021235
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-202006045441
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)