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장비 및 시설 기본정보
이온접속빔시스템
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Jeol |
| 모델명 | JIB-4601F |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2015-01-27 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 재료연구소 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A200 |
| 표준분류명 | 분석 |
| 시설장비 설명 | Ga 이온을 가속/집속하여 마이크로 미터 이하의 정밀 가공을 가능하게 하는 접속이온빔 장치 및 가공과 동시에 미세구조를 관찰할 수 있는 전자현미경을 포함하는 정밀 분석/가공 장비이다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201712/20160823102314_20150127000000184788 NFEC-2015-01-196259.jpg |
| 장비위치주소 | 재료연구소 연구4동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2015-01-196259 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-202005292222 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |