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장비 및 시설 기본정보

고주파 반도체 검사기

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 엠에스테크
모델명 MST-12000C
장비사양
취득일자 2012-08-20
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 단국대학교 산학협력단
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 C514
표준분류명
시설장비 설명 RF Probe Station은 반도체 소자 나노재료 신소재 LCD TR Diode의 I-V C 측정을 위한 장비입니다. 3 에서 12 "까지의 크기 측정이 가능하며 측정온도는 (+) 200 ~ (-50) Dgreec 이고 배율은 ~ 800 x 까지입니다.1. MST-12000CH_RF 110GHz _RF 고주파 반도체 검사기 본체(Model: MSTECH-12000)
a. 12“ inch vacuum chuck
b. Z Stage Unit
c. 12"x12" X-Y Stage Unit
d. 2"x2" X-Y micrometer Translation manual type
e. Other units - 6 positioner's vacuum switch : Left right
2. Microscope - Microscope(Maximum : ~ 800X ) _정밀현미경
3. RF Positioner body - HIGH RESOLUTION : 1um_110GHz
고주파 정밀 탐치기"
4. RF Probe Holder_Theta Micro Control
5. Vacuum Rail Type
6. Vacuum pump_저소음 진공 펌프
7. Vibration Table_Up Rack type
8. System Control Rack_1400
9. System Control PC
*. Accessories : Ground Cable 4ea고주파 소자의 칩 특성을 분석하여 장치
1. MST-12000CH_RF 110GHz _RF 고주파 반도체 검사기 본체(Model: MSTECH-12000)
2. Microscope - Microscope(Maximum : ~ 800X ) _정밀현미경
3. RF Positioner body - HIGH RESOLUTION : 1um_110GHz
4. RF Probe Holder_Theta Micro Control
5. Vacuum Rail Type
6. Vacuum pump_저소음 진공 펌프
7. Vibration Table_Up Rack type
8. System Control Rack_1400
9. System Control PC
장비이미지코드 http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201304/.thumb/20130422183142316.jpg
장비위치주소 경기 용인시 수지구 죽전1동 단국대학교죽전캠퍼스 126번지 단국대학교 죽전캠퍼스 서관 3층 319
NFEC 등록번호 NFEC-2013-06-179565
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0039628
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)