미세초점 3차원 엑스레이 투시검사 장치
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Shimadzu |
모델명 | inspeXio SMX-225CT |
장비사양 | |
취득일자 | 2008-09-29 |
취득금액 |
보유기관명 | 원광대학교 산학협력단 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | B521 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | null주요사항 Tube Voltage : Max. 225kV Tube Current : Max. 1mA Focus Size : Min. 4㎛ Detector - Image Intensifier : 9/ 7.5/ 6/ 4.5 inch CCD Camera : 1M Pixel Sample Stage - 300mm(ø)×300 mm(H) 9kg CT Filed of View (FOV) - X Y Direction 5 ~ 200mm(ø) - Z Direction 4.5 ~ 100mm이용분야 부품소재의 결함 검사 (결함의 위치 종류 및 크기 등을 확인) 부품소재의 치수 측정 (재료의 두께 거리 측정 R부의 곡률 측정 및 각도 측정) 부품소재의 형상 비교 (CAD 데이터와 실제 제품간의 형상 및 치수 비교 분석) Reverse Engineering (제품에 대한 3차원 형상 정보를 신제품 역설계에 활용) |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201403/.thumb/2014033194559729.jpg |
장비위치주소 | 전북 익산시 신용동 원광대학교 자연과학대학 지하1층 X-선분석실 원광대학교 자연과학대학 지하1층 X-선분석실 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2011-01-131277 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0021007 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |