- HOME
- 홈페이지 이용안내
장비 및 시설 기본정보
파장 분산형 형광 X-선 분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Rigaku |
| 모델명 | ZSX Primus II |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2013-02-22 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국과학기술연구원 특성분석센터 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B522 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 고정밀도 분석을 위하여 구조를 설계한 상면 조사 타입의 순차 분석형 형광 X선 장치 :이 장비는 시료에 함유되어 있는 원소의 정량 및 정분석을 위한 장비로 컴퓨터로 전자동 조절이 가능한 파장 분산형 X-선 분석기로 4Be ~ 92U까지 원소 분석이 가능. 신 분광 결정 적용하여 B C 등 초경원소의 고감도화로 종래 분광 결정대비 2배 이상의 강도증가를 실현. CCD 카메라를 탑재 가능해 시료를 화면상에서 분석 위치를 지정하고 Mapping 측정 또는 오염 부위 측정이 가능. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201303/2013032711144630.jpg |
| 장비위치주소 | 한국과학기술연구원 연구동(L1) |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2013-03-177369 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-KIST AAC-00034 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |