- HOME
- 홈페이지 이용안내
장비 및 시설 기본정보
X선 형광분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Rigaku |
| 모델명 | ZSX Primus |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2007-04-30 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | (주)이노칩테크놀로지 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B522 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 1. 개요 : ZSX Primus는 액체 분석에 최적인 하면 조사형의 형광 X-선 분석장치입니다. 48 X-Y 시료 자동교환기를 채택 종전 장비에 비하여 본체 설치 면적 약 50% 감소시킨 장비 입니다. 또 장비의 뒷면의 일상 수리공간이 필요 없으며 CCD 카메라를 장착 화면상에서 분석 위치를 지정 성분의 분포도 등을 측정할 수 있습니다. 소프트웨어는 초보자라도 고도의 분석을 간단하게 실시할 수 있도록 Flow bar형식의 기능으로 구성되어 있습니다. 신 분광 결정의 개발로 B C 등 초경원소의 고감도화로 종래 분광 결정대비 2배 이상의 강도증가를 실현했습니다. 2. 제품 특징 - 100μm의 Mapping 분해능으로 PCB 기판상의 배선이나 편석 등 시료의 미소부위 분석이 가능 - 최대 출력 4kW (60kV 150mA) 및 30um Be 창 X-선관을 채택 기존의 75um Be 창 대비 경 원소 분석시 약40%의 강도증가를 실현 - 냉각수량 저감(종래의1/2이하) PR가스량 저감(종래의1/10) - rθ구동의 시료 스테이지 채용으로 측정 포인트에 의한 X선 강도 변화가 생기지 않음 - New SQX 소프트웨어의 탑재에 의해 경 원소 베이스의 물질(폴리머 등)의 정량 분석이 보다 정확하게 실시할 수 있음 3. 구성 : X-선 발생부 장치본체 진공계 Control부로 구성된 Automatic Sequential System4. 활용분야 : X-선 형광 회절패턴을 이용하여 무기물 및 금속 등의 미지의 시료에 대한 정성 및 정량분석 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110104090559.JPG |
| 장비위치주소 | 경기도 안산시 단원구 원시동 769-12 (주)이노칩테크놀로지 부설연구소 3층 분석실 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2009-10-074700 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0014343 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |