| 보유기관명 |
LG전자(주) |
| 보유기관코드 |
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| 활용범위 |
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| 활용상태 |
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| 표준코드 |
B517 |
| 표준분류명 |
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| 시설장비 설명 |
유리 기판 대면적 적층형 실리콘 박막 태양전지 모듈을 구성 하는 실리콘계 박막의 특성 평가를 위한 장비로서 상부 셀(Top Cell) 중간 셀(Middle Cell) 하부 셀(Bottom Cell)로 적용되고 있는 비정질 실리콘 비정질 실리콘-게르마늄 미결정 실리콘 박막의 결정화 분율의 측정이 가능하다.조사된 레이저(Laser)에 의해 산란된 빛의 파장별 세기(intensity)의 측정이 가능하며 다수의 피크(peak)가 혼합된 스펙트럼에서 가우시안(Gaussian) 분포를 가지는 각각의 피크(peak)로의 다중 분할이 가능하고 해당 피크(peak)의 면적 계산도 가능하다.상기 기능을 바탕으로 하여 실리콘계 박막 내부의 결정화도의 정성 및 정량 분석이 가능하고 증착된 박막의 질(Quality)의 평가도 가능하다. |
| 장비이미지코드 |
http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110127151824.JPG |
| 장비위치주소 |
서울 서초구 우면동 16 LG전자 LG전자기술원 |
| NFEC 등록번호 |
NFEC-2011-01-138337 |
| 예약방법 |
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| 카타로그 URL |
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| 메뉴얼 URL |
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| 원문 URL |
http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0024954 |
| 첨부파일 |
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