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장비 및 시설 기본정보
고출력 X-선 회절분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Panalytical |
| 모델명 | X`pert PRO |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2007-09-20 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국기초과학지원연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B520 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 특징 X-선 회절 분석은 미지의 시료속에 있는 결정상들의 정성 및 정량분석을 위하여 사용되는 장비이다. X-선관(X-Ray Tube)으로부터 발생된 특성 X-선을 시료에 조사하면 시료내의 결정상은 Bragg 법칙에 따라 고유한 각도에서 회절된다. 이때 X-선이 검출되는 각도와 세기는 해당 결정상을 특정짓는 고유한 것으로 이 측정 자료로부터 미지의 결정상을 확인할 수 있다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201612/20161214193115720.jpg |
| 장비위치주소 | 한국기초과학지원연구원 서울센터 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2008-03-056317 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0008632 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |