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장비 및 시설 기본정보
반도체 소자 패러미터 분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Agilent Technologies |
| 모델명 | B1500A |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2007-12-28 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국전자통신연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | C514 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 특징 Analyzer(Semiconductor device analyzer) : 반도체 소자의 전압 전류 커패시턴스 값을 측정 분석할 수 있는 장비이다. : 4개의 채널을 가지고 있어서 최대 4-terminal device까지 측정이 가능하다. : 모듈을 추가하여 펄스형태의 측정도 가능하다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201101/20110121113535.jpg |
| 장비위치주소 | 한국전자통신연구원 4동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2008-01-055062 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0013670 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |