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장비 및 시설 기본정보
반도체검사기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Agilent Technologies |
| 모델명 | 4155C |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2013-08-19 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 전남대학교 광주캠퍼스 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | C514 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 4155C는 반도체의 특성을 분석하고 측정하는 electronic instrument 임. IV, qusi static C-V measurement, Analysis, data storage 등이 가능 함. -four medium power source monitor units (MPSMUs: 10 fA/2 μV to 100 mA/100 V) - two voltage source units (VSUs) - two voltage monitor units (VMUs)Measurement Capabilities: four acurrate source/monitior (SMUs), Two voltage source units(VSUS) Analysis function, data storing, Printing and plotting, Remote control (GPIB or parallel I/O interface, store TIFF, PCL file. - Set measurement and/or stress conditions - Control measurement and/or stress execution - Perform arithmetic calculations - Display measured and calculated results on the LCD display - Perform graphical analysis - Store and recall measurement setups, and measurement and graphical display data - Dump to printers or plotters for hardcopy output - Perform measurement and analysis with internal Instrument BASIC - Self-test, Auto-calibrationSweeping mode measurement, sampling measurement, quasi-static C-V measurement, and I-V measurement |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201410/batch/.thumb/086131200047266045.JPG |
| 장비위치주소 | 광주광역시 북구 용봉로용봉로 77 전남대학교자연대4호관 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2014-11-192977 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0046018 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |