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장비 및 시설 기본정보
회절 엑스레이 시스템
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Bruker |
| 모델명 | D8 ADVANCE |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2008-10-31 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국과학기술연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B520 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 특징 - 고분자 필름 CNT inorganic filler 고분자 나복합체 고분자 섬유 나노세라믹섬유나노탄소섬 유 및 나노섬유 분석 및 특성제어 광전소자용 산화물 반도체 입자 및 이방성 소재 이방성 금속소 재 박막소재 금속 나노섬유 등과 결정화도 배향성 정성분석에 사용구성 및 성능 - Graphite monochrometer -Hi-SRAR 2D detector -SAXs for HIO-STAR detector -Laser/Video sample alignment system -DIFFRAC gADDS -2 Theta-omega cirle eulerian X.Y.Z stage for mapping -LEPTOS for XRR HR and Stress활용분야 - 정량분석 정성분석 결정학 구조와 이완상태 조직과 잔류 응력 통제된 견본 환경 마이크로 회 절(micro-diffaction) 나노물질 등의 검사시 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201110/.thumb/20111026161745.jpg |
| 장비위치주소 | 서울특별시 성북구 화랑로14길 5 (하월곡동) 한국과학기술연구원 연구동(L1) 1층 L1134 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2009-01-070395 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0011842 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |