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전반사 X-선 형광분석기

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보유기관명	한국과학기술원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	B520
표준분류명
시설장비 설명	전반사형광분석기(Total Reflection X-ray Fluorescence Spectrometer)는 분말 형태 또는 고체필름 박막 시료의 표면의 미지 시료를 미량 원소의 정성을 빠른 시간 내에 분석을 할 수 있도록 최적의 구성으로 준비된 장비이다. 미량 오염 형태로 존재하는 미지 시료의 정성이 가능하다 또한 액상 시료의 측정에는 정성 및 내부 표준법에 의한 정량도 가능하다.- Target : Cu Mo - 정성분석 : Na~부터 가능 - 정량분석 : 반정량분석법 활용 - 시료종류 : 분말 액상 필름 등 가능 - 전처리 : 별도의 전처리 과정없이 측정 가능환경 고분자 화합물 제약 화장품 LCD제조 나노입자 및 전기전자 제품 등 시료에 상관없이 다양한 물질 등을 측정 기존의 반도체용 TXRF에 비하여 탁상용으로 개발 되어 측정 시료의 종류를 다양하고 보다 많은 응용 범위를 제공
장비이미지코드	http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201309/.thumb/2013090595324400.jpg
장비위치주소	대전 유성구 구성동 한국과학기술원 중앙분석센터 한국과학기술원 W8-1/중앙분석센터 2층 206
NFEC 등록번호	NFEC-2013-09-182588
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0041489
첨부파일

기업조회