반도체검사기
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Agilent Technologies |
모델명 | 4155C |
장비사양 | |
취득일자 | 2006-08-08 |
취득금액 |
보유기관명 | 서울대학교 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | C514 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 전압(100㎶ ~ 100V)이나 전류(100fA ~ 100mA)를 주는 동시에 전압(2㎶ ~ 100V)이나 전류(10fA ~ 100mA)를 측정을 할 수 있는 장비(Source-Measure Unit)가 4개 장착되어 있고 추가로 capacitance v.s. voltage를 잴 수 있는 장치이다. 이 장비는 기본적으로 컴퓨터가 내장되어 있는 시스템이다. 본 장비는 전압(100 ~ 100)이나 전류(100 ~ 100)를 주는 동시에 전압(2 ~ 100)이나 전류(10 ~ 100)를 측정하고 capacitance는 10pF 의 정확도로 측정할 수 있는 장비이다. 따라서 이 장비로 semiconductor의 characterization이나 insulator의 저항 측정이나 전기용량 등을 효과적으로 할 수 있는 장비이다.Semiconductor Parameter Analyzer -4155C 3.0m interlock 4x coaxial 4x trial cables -4155C-230 USB Security Key-4155-USB Triax(f)to BNC(m) adaptor -N1254A-105 |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110119144505.JPG |
장비위치주소 | 서울 관악구 대학동 서울대학교자연과학대학 산 56-1 서울대학교 19동 (자연과학대학) 4층 421호 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2008-04-070967 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0015661 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |