광측정시스템
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | 광전자정밀 |
모델명 | OPI-150 |
장비사양 | |
취득일자 | 2007-11-08 |
취득금액 |
보유기관명 | 한양대학교 ERICA캠퍼스 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A400 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 전류-전압 전압-전류 전류-광 Sweep 측정 온도 및 시간에 따른 전기적 광학적 열적 특성 측정 다양한 분광영역(UV UV-VIS VIS VIS-IR) 선택 다양한 광파이버 및 SMA 콘넥터 코사인 콜렉터 선택 Keithley Sourcemeter 를 이용한 다양한 전원인가 및 측정 범위 선택고출력 멀티칩 LED/OLED의 성능 측정 다양한 고출력 멀티칩 모듈 LED/OLED 등의 광학적/전기적/열적 특성을 측정 전류인가 및 측정은 3A까지 가능하며 연속 및 펄스 형태 가능. 최소 펄스 폭: 200μsec 최대 32채널까지 소스미터 확장 다양한 패키지 형태에 적합한 어뎁터 지원 -.Reverse Current/Voltage IrVr ; Refer to LEOS: Providing with all the items/specifications to measure in LEOS -. Power Source: Max 1~10A Pulse mode support -.Spectrum Range: UVUV~VisVis~IRIRUV-~IR광학 측정 LED chip 및 package의 광특성측정 ; Coordinate(CxCy Color Coordinates) Luminous Intensity(IVLight Intensity) Correlated Color Temperature(CCT(Tc) Correlated Color Temperature) Color Rendering Index(CRI(Ra) color rendering) CIE XYZ ( tristimulus values) POL (polarity spectrum peak/dominat wave lengthCIE color -. Electrical Measurement ; Forward /Reverse Current (If Ir) Forward/Reverse Voltage (VfVr) I-V-L Sweep |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201308/.thumb/2013082214151839.jpg |
장비위치주소 | 경기 안산시 상록구 사3동 한양대학교 1271번지 한양대학교 안산캠퍼스 공장형실험동 2층 208호 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2008-07-082922 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0008984 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |