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장비 및 시설 기본정보

제타전위 및 입도 분석기

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Otsuka Electronics
모델명 ELSZ-1000
장비사양
취득일자 2013-03-25
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국표준과학연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 B701
표준분류명 계측
시설장비 설명 입도분석및제타전위측정 1.입자의사이즈측정(평균입자크기:0.1nm-10um) -1ppm~40%까지넓은농도범위에서의측정이가능하여분산상의원액상태의입자크기측정이하고,별도의unit변경이없이고농도,저농도측정대응이가능합니다. -지금까지측정하기어려웠던SubMicro의입자의크기를측정할수있습니다. -입자가측정시과연응집을하고있는지,분산되고있는지를실시간으로측정중에입자의거동을확인할수있습니다. -입자의크기뿐아니라입자의크기분포,수분포,무게분포,확산계수등의Data를동시에확인이가능합니다. -분산상의용매에대한제한이없이모든용매에대한분석이가능합니다. 2.ZETA-POTENTIALCell(NOlimit,-200~200mV(수용액의경우)) :저농도=>Flowzetacell,고농도=>HighConcentrationzetacell -종래입자의측정시입자가응집이일어나면초음파처리를하거나분쇄기로처리하여입자를작게하였습니다.용매에단순히입자를넣은상태에서는이런처리를하더라도재응집이일어납니다.이렇게입자의응집,분산에영향을미치는입자의표면전위를측정할수있습니다. -입자표면의이온을측정함으로써pH변화에따른입자의분산및응집그리고입자의1차입자를확인할수있습니다. -계면활성제를넣어분산시킬경우계면활성제의CMC농도에따라응집및분산의효과를가장확실하게알수있으며,또한가장간단하게흡착량의측정이가능합니다. -한번측정으로,혼합된입자(5종류까지)에대한제타전위측정이가능합니다. -Cell의변경없이,한번장착한상태에서시간,온도,pH,첨가제량변화에따른입자제타전위변화분석이가능합니다. -고염농도가높은sample의경우또한,별도의cell로교체하지않고기본Flowzetacell을이용하여한번장착한상에서시간에따른변화,온도변화,pH변화,첨가제첨가에따른입자거동분석이가능합니다.
장비이미지코드 http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201304/20130405103859582.jpg
장비위치주소 한국표준과학연구원 신소재동
NFEC 등록번호 NFEC-2013-04-177613
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0050330
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)