기업조회

본문 바로가기 주메뉴 바로가기

장비 및 시설 기본정보

투과전자현미경 실시간 홀더 시스템

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Protochips
모델명 모델명 없음
장비사양
취득일자 2017-10-11
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국과학기술연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 A205
표준분류명 분석
시설장비 설명 1. 고진공 환경에서 분석을 진행하는 투과 전자현미경의 한계 극복 및 새로운 반응 환경 영역에서의 현상을 실시간으로 관찰할 수 있다. 2. 온도 와 전기장 변화에 따른 재료 / 소재 / 소자의 실시간 투과 자현미경 분석 통해 재료의 구조 및 조성 등 물성 분석 3. 온도변화 및 다양한 가스 환경에서 재료 / 소재 / 소자의 실시간 투과 자현미경 분석 통해 재료의 구조 및 조성 등 물성 분석 4. 온도, 전기장 변화 및 다양한 가스 환경에서 재료 / 소재 / 소자의 실시간 투과 자현미경 분석 통해 재료의 구조 및 조성 등 물성 분석 5. 다양한 반응 / 구동 환경 하 재료 / 소재 / 소자의 실시간 투과 전자현미경 분석을 통해 재료의 생성 / 반응 원리 및 구조 / 조성 등의 분석을 통해 물성 발현의 원리 이해, 이를 통해 최첨단 신물질 개발 가능
장비이미지코드 http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201711/2017110813917887.gif
장비위치주소 연구동
NFEC 등록번호 NFEC-2017-11-240644
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-201712273072
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)