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장비 및 시설 기본정보
파장분산엑스레이분광 주자전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Hitachi |
| 모델명 | su70 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2014-06-03 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국기초과학지원연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) 본체에 반사전자 영상기(BSE) 투과전자 영산기(TE) 파장분산 X-ray 분광기(WDX) 에너지분산 X-ray 분광기(EDX) 가 장착되어 마이크로 서브마이크로 영역의 형태 분석 및 정량 정성 분석이 가능한 분석 장치 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201406/20140624175753836.jpg |
| 장비위치주소 | 한국기초과학지원연구원 서울센터 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2014-07-190290 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0044567 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |