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장비 및 시설 기본정보
반도체 변수 분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Agilent Technologies |
| 모델명 | 4155A |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 1996-05-31 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 광주과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | C514 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | HP 4155/56A can perform staircase and pulse sweep measurement and sampling (time-domain) measurement using many measurement units including units in the HP 41501A without changing connections. Moreover you can easily perform stress-measure cycling test for reliability evaluation such as hot carrier injection and flash EEPROM test. Setup and measurement are made by setting up pages and filling in the blanks from front-panel keys keyboard or HP-IB (SCPI commands). You can also instantly measure and find setup conditions by using knob sweep capability which is similar to curve tracer operation. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201310/20131007184618170.jpg |
| 장비위치주소 | 광주과학기술원 정보통신공학동 A동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2011-01-134315 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0022318 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |