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장비 및 시설 기본정보

주사전자현미경

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Hitachi
모델명 S-3400N
장비사양
취득일자 2006-01-25
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 (주)가야AMA
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 A206
표준분류명
시설장비 설명 주사전자현미경의 원리 및 특징은 가속된 전자빔을 시료에 조사할 때 발생되어 나오는 2차전자를 이용하여 시편 표면의 미세한 요철상 조성상을 관찰하고 성분을 분석하는데 활용이 가능하다. 시료를 분석하기 전에 시편 준비가 제대로 되어 있어야 한다. 시편에 있는 불순물 및 내부에 함유되어 있는 오일을 제거하여야 보다 정확한 분석이 가능하게 된다. 주요 구성 및 성능은 가속전압은 0.3 ~ 30kv이며 배율은 5~300000배까지 관찰이 가능하며 EDX가 부착되어 있어 시료의 성분분석이 가능하다.사용할 수 있는 재료로는 금속 비금속 무기재료 반도체 섬유 등이며 비전도체의 경우 카본테이프나 카본코팅을 실시하여 관찰이 가능하다.
장비이미지코드 http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110117154446.jpg
장비위치주소 경남 양산시 하북면 백록리 1010-1번지 가야AMA(주) 연구소
NFEC 등록번호 NFEC-2011-01-133819
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0022076
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)