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장비 및 시설 기본정보
투과전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Jeol |
| 모델명 | JEM-2100F |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2007-05-30 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 호서대학교 산학협력단 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A205 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 특징 Acc. Voltage : 200 kV Electron Gun Emitter : ZrO/W(100) Schottky emitter Resolution: Point resolution in TEM mode- 0.23 nm Lattice resolution in TEM mode- 0.1 nm Lattice resolution in STEM mode- 0.2 nm구성및성능 소재의 정성 정량분석 구조분석 표면관찰 등 Acceleration voltage : 200kV Electron gun : FEG(ZrO/W(100) Schottky emitter) Resolution : Point image : 2.3Å / Lattice image : 1.0Å(STEM : 2Å) Minimum probe size/current : 0.5nm dia./ 0.5nA(1nm probe) Aberation parameter : Cs = 1.0mm Cc = 1.4mm"활용분야 시료의 구조 관찰 EDS를 통한 소재의 정성정량분석/회절 패턴을 이용한 소재의 구조 분석/약1000000배 이상의 소재 표면의 이미지 분석 등 특징 Acc. Voltage : 200 kV Electron Gun Emitter : ZrO/W(100) Schottky emitter Resolution: Point resolution in TEM mode- 0.23 nm Lattice resolution in TEM mode- 0.1 nm Lattice resolution in STEM mode- 0.2 nm |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201110/.thumb/20111024164459.jpg |
| 장비위치주소 | 충청남도 아산시 배방읍 호서로79번길 20 호서대학교 지역혁신센터 1층 105 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2008-09-066406 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0010350 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |