| 시설장비 설명 |
전기전자제품에 대한 전자파 적합성(EMC)시험을 수행하는 장비의 일종으로 제품으로 부터 방출되는 불연속 잡음을 측정하는 장비임.
이 시험을 위해서는 전자파차폐실이 필수로 필요하며 이동은 불가능하고 의사회로망 및 전자파 측정 수신기 등과 결합하여 사용 가능함.EFT Wave form : 5/50 ns ± 30 % Test Level : 250 V ~ 4.4 kV ± 5 % Burst 주기 및 폭 : 300 ms± 10 % 15 ms± 20 % 반복주파수 : 1-100 kHz Surge wave form: OCV 1.2/50 ㎲ SCC 8/20 ㎲ Test Level : 250 V ~ 6.0 kV 125 A ~ 3.3 kA OCV 특성 : 1.2 ㎲ ± 30 % 50 ㎲ ± 20 % SCC 특성 : 8.0 ㎲ ± 20 % 20 ㎲ ± 20 % ESD : CD ± 0.5 ~ 8 kV AD ± 0.5 ~ 15 kV ESD Waveform 및 회로정수: 0.7-1.0 ns 150 pF/330 Ω전자파 차폐실에서 전기전자제품인 시험품으로부터 80cm 거리에서 의사회로망을 연결하고 불연속 발생기에서 측정된 불연속 잡음의 갯수가 허용치를 넘는 지는 확인하며 전자파 험을 수행함. |
