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장비 및 시설 기본정보
굴절율 및 반사막 두께 측정기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 엘림글로벌 |
| 모델명 | SE 800 PV |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2012-07-12 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 전북대학교 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A408 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 본 장비는 파장범위 300 nm ~ 930 nm의 태양전지 특성분석에 특화된 분광 엘립소미터 표준 샘플 측정을 위해 240nm ~ 930nm의 파장범위로 확대 textured silicon 태양전지 측정에 정확도를 향상할 수 있도록 1024채널을 갖는 매우 정교한 CCD array detection system을 제공한다. 또한 50도의 낮은 각도에서도 샘플 측정이 가능 본 장비는 가능한 영역의 모든 파장 분석을 동시에 수행- Range : 0~100% - Accuracy : +/-0.5% - Repeatability : less than 0.1% - Resolution :0.05% - Spectrometer Unit : WxDxH = 165mm x 165mm x 89mm - Wafer size : works for all wafer sizes (of at least 1 inch) - Wafer shape : Square; Pseudo-Square; Round실리콘 태양전지의 반사방지막 두께 및 굴절율 측정 장비로서 태양전지의 반사방지막 전용 측정 장비임 반사방지막 두께와 굴절율에 따른 실리콘 태양전지의 효율 변화 분석 및 측정 가능함. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201310/.thumb/20131022132921403.jpg |
| 장비위치주소 | 전북 부안군 하서면 백련리 1112-4 신재생에너지소재개발지원센터 신재생에너지소재개발지원센터 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2012-07-167605 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0034190 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |