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주사전자 현미경

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보유기관명	안동대학교
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	A206
표준분류명
시설장비 설명	가속된 전자가 시료의 표면에 조사될 때 발생되는 2차 전자(secondary electron) 및 X-선으로부터 시료의 미세영상을 확대, 관찰하고 시료의 구성원소를 정성, 정량하며, 시료의 내부에 침투한 전자가 다시 시료 밖으로 나올 때 생기는 전자량(back scattering electron)의 차이에 의해 조성원소 중 질량이큰 원소와 작은 원소의 분포(composition)을 알 수 있는 고배율 현미경이다. ㆍ 가속 전압 : 0.2~30㎸ ㆍ 배 율 : 20~250,000배 ㆍ 해상도 : 3.5㎚ at 30㎸ ㆍ 부착 장비 : EDS(Energy Dispersive X-ray Spectrometer) ㆍ 금속, 세라믹, 고분자, 광물시료의 미세구조 관찰 및 구성성분 분석 ㆍ 생물(세포, 식물 조직, 박테리아, 바이러스 등)의 미세조직 관찰 및 촬영 ㆍ 구성원소의 분포 확인(X-ray mapping)
장비이미지코드	http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201410/batch/.thumb/070091200023187376.JPG
장비위치주소	경북 안동시 경동로 1375번지 안동대학교 안동대학교 공동실험실습관공동실험실습관
NFEC 등록번호	NFEC-2014-11-193333
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0045777
첨부파일

기업조회