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장비 및 시설 기본정보

마이크로 자기 토크 측정 시스템

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Andor Technology
모델명 모델명 없음
장비사양
취득일자 2003-11-06
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국과학기술연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 D501
표준분류명 기타
시설장비 설명 특징 나노패턴과 형상의 제어를 연구하는 분야에서 나노패턴과 구조물의 자기적 성질(기본적인 자기적 성질과 마이크로 자기 토크)을 측정하고 분석하 기에 필요한 해성도와 성능을 갖춘 장비로서 nano-wire나 nano-pattern을 분석하는데 필수적임. -7emu 수준의 resolution으로 자기적 성질 측정할 수 있고 computerized magnetic torque 측정 System으로 나노 구조의 자기적 성질을 분석하는 데 활용성이 뛰어남. 구성및성능 1) 7400 Subsystem #736E Electronics (736 with hall probe) #731M Mechanical drive assembly subsystem #740ESC pick up coil Options 1. #74030 Autorotation option 736 controller 2. #74032 Vector option Y coil set for 2" gap 3. #EM4-4P Pole cap 4" dia 4" face
장비이미지코드 https://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201712/20160919111922_200702071934 NFEC-2003-12-044196.jpg
장비위치주소 한국과학기술연구원 L0
NFEC 등록번호 NFEC-2003-12-044196
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL https://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0051867
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)