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장비 및 시설 기본정보
레이저 상 분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Renishaw |
| 모델명 | InVia basic |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2013-04-09 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국과학기술연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B517 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 기존 장비인 AFM, SEM 등으로는 표면형상만을 분석하는 것이 가능하나, 현미경적 분석은 한계가 있으며. 이러한 한계는 다양한 파장 대역에서의 광학적 상분석 매핑을 통해서만 극복될 수 있음. 본 장비는 다양한 구조 및 화합물에 통합적으로 사용될 수 있도록 넓은 범위의 파장 대역을 광학적으로 손쉽게 튜닝하며 다양한 매핑 영역 제공 및 정확한 매핑을 진행 할 수 있도록 디자인되어 현미경적 분석의 한계를 극복할 수 있음. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201308/20130830154545376.jpg |
| 장비위치주소 | 한국과학기술연구원 연구동(L4) |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2013-09-182526 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0054817 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |