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장비 및 시설 기본정보

고온 X-선 회절분석기

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Rigaku
모델명 Ultima IV
장비사양
취득일자 2018-07-20
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국화학연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 A0
표준분류명 시험
시설장비 설명 - 물질의 물리적 특성은 원자의 배열 상태와 같은 내부구조의 변화에 따라 다양하게 변하므로 물질의 성질을 이해하기 위해서는 구조적 상전이 현상을 이해하는 것이 중요 - 구조적 상전이(Structural phase transition) : 결정 구조의 미소한 변화를 수반하는 상(Phase)의 전이로 전이점에서 격자가 불안정하게 되며 그에 대응하여 결정의 대칭성이 변함 - 물질에 열이 가해지면 단위격자 내 원자들의 재배열이 일어나거나 격자구조의 변화를 수반함 - 열처리 조건에 따라 내부구조(치환되는 정도, 격자상수 등)가 변화되어 열처리 이전과는 다른 X-선 회절 패턴 형성 - 고온 장치를 X-선 회절 분석기에 장착하여 온도 상승에 따른 물질의 구조적 상전이 측정 가능 - In situ 연구(온도 변화에 따른 구조적 상전이를 실시간으로 확인)
장비이미지코드 http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201906/2019061114363235.jpg
장비위치주소
NFEC 등록번호 NFEC-2019-06-256186
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-201912193678
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)