고온 X-선 회절분석기
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Rigaku |
모델명 | Ultima IV |
장비사양 | |
취득일자 | 2018-07-20 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국화학연구원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A0 |
표준분류명 | 시험 |
시설장비 설명 | - 물질의 물리적 특성은 원자의 배열 상태와 같은 내부구조의 변화에 따라 다양하게 변하므로 물질의 성질을 이해하기 위해서는 구조적 상전이 현상을 이해하는 것이 중요 - 구조적 상전이(Structural phase transition) : 결정 구조의 미소한 변화를 수반하는 상(Phase)의 전이로 전이점에서 격자가 불안정하게 되며 그에 대응하여 결정의 대칭성이 변함 - 물질에 열이 가해지면 단위격자 내 원자들의 재배열이 일어나거나 격자구조의 변화를 수반함 - 열처리 조건에 따라 내부구조(치환되는 정도, 격자상수 등)가 변화되어 열처리 이전과는 다른 X-선 회절 패턴 형성 - 고온 장치를 X-선 회절 분석기에 장착하여 온도 상승에 따른 물질의 구조적 상전이 측정 가능 - In situ 연구(온도 변화에 따른 구조적 상전이를 실시간으로 확인) |
장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201906/2019061114363235.jpg |
장비위치주소 | |
NFEC 등록번호 | NFEC-2019-06-256186 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-201912193678 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |