전계방사형 주사전자현미경
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Hitachi |
모델명 | S-4800 |
장비사양 | |
취득일자 | 2009-12-30 |
취득금액 |
보유기관명 | (재)철원플라즈마산업기술연구원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A206 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 전자총에 전압과 전류를 접속하여 형성된 전자빔을 이용하여 금속 무기물질 고분자의 표면과 단면구조를 분석하는 장비로써 표면구조의 3차원적 image를 제공한다. TEM에 비해 간단한 전 처리를 통해 재료 식물 의학 반도체 등 거의 대부분 시료를 분석 할 수 있다.*FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscope) -분해능 : 1.0nm(at 15kV) 1.4nm(at 1kV) -배율 : x20~x800000 -전자총 : Cold cathode field emission -가속전압 : 0.5 to 30kV -Specimen stage : X Y 0~50mm Z 1.5~30mm T -5˚~+70 ˚ R 360˚ *EDS -분해능 : 129eV at 20mm(MnKa) -검출범위 : B(5) to U(92)-전자총에 전압과 전류를 접속하여 형성된 전자빔을 이용하여 금속 무기물질 고분자의 표면과 단면구조를 분석 -Metal-graphene 합성 분말 및 나노사이즈 분말 형상 측정 |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110127142807.jpg |
장비위치주소 | 강원 철원군 갈말읍 호국로 4620 . (재)철원플라즈마산업기술연구원 연구원본관 1층 분석실 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2011-01-138293 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0024918 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |