- HOME
- 홈페이지 이용안내
장비 및 시설 기본정보
주사전자현미경(SEM)
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Topcon |
| 모델명 | SM-300 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2002-12-31 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 금오공과대학교 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 주사전자현미경에서는 전자총에서 발생된 전자빔을 집속시켜 시료의 미세영역에 조사하여 투과되거나, 주산된 전자를 전자장을 이용하여 확대시킨 후, 검출기로 감지하여 형광판이나 화면으로 확대된 상을 관찰한다. 또한 시료 표면의 정보를 얻을 수 있고 시료의 두께, 크기 및 준비에 크게 제한을 받지 않는다. 주사전자현미경은 광학현미경에 비해 집점심도가 2배 이상 깊고, 또한 광범위하게 집점을 맞출 수 있어 입체적인 상을 얻는 것이 가능하다.- 최대배율 : 300,000배, 전원사양 : 220v - 주사전송전자현미경 기능 내장 유무 : 유, 종류 : 주사전자현미경(SEM) - 대물렌즈 초점 거리 : 80mm, 배율 : 20~300000(26단계) - Resolution : 3.5mm, Specimen stage : TXYRZ eccentric stage전자총에서 발생된 전자빔을 집속시켜 시료의 미세영역에 주사한 후 화면으로 확대된 상을 관찰하며, 시료 내의 원소에서 발생하는 특성 X선을 분석하는 X선 마이크로애널나이저와 병용하여, 시료 내에 있는 특정 원소의 검출이나 분포를 해석하는 수단으로도 널리 사용하고 있다. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201412/.thumb/20141210203511403.bmp |
| 장비위치주소 | 경북 구미시 거의동 1 금오공과대학교 2층 246 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2014-12-194872 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0047777 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |