| 보유기관명 |
한국과학기술원 |
| 보유기관코드 |
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| 활용범위 |
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| 활용상태 |
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| 표준코드 |
B508 |
| 표준분류명 |
시험 |
| 시설장비 설명 |
본 장비는 광원(Xenon Lamp)를 시료(고체액체)에 조사하여 산란하는 빛들을 분광 분석을 통해 시료의 분자 구조상의 물질 분석 및 형광 인광 등의 분석에 사용되며 각 발현되는 형/인광의 decay time 분석등에 이용된다. 특히IR 1700nm 영역까지의 장파장의 영역도 측정할 수 있어 기존의 Fluorometer에서 얻을 수 없는 data를 얻을 수 있다. 장착 된 450W Xenon lamp로부터 받은 빛을 Excitation Monochromator 로 필요 역위 파장을 받아서 Sample 에 조사후 Sample의 특성을 지니고 나오는 산란된 빛을 Emission spectrometer 에 분광 하여 Sample의 분광학적 특성을 파악하고 또한 NanoLED(펄스광원) 를 이용하여 형광/인광의 Lifetime 측정 및 이의 Decay Time 분석에도 이용된다. 특히 본 장비에서는 lifetime decay를 100ps의 낮은 영역부터 1 microsecond까지의 긴 시간까지 또 파장영역에서는 300nm의 단파장에서 1700nm까지의 매우 장파장의 영역까지 측정할 수 있어 기존의 fluorometer에서 측정할 수 없었던 data를 얻을 수 있다. |
| 장비이미지코드 |
http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201712/20160830153021_20110307000000109206 NFEC-2011-03-145039.jpg |
| 장비위치주소 |
한국과학기술원 응용공학동 |
| NFEC 등록번호 |
NFEC-2011-03-145039 |
| 예약방법 |
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| 카타로그 URL |
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| 메뉴얼 URL |
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| 원문 URL |
http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0028923 |
| 첨부파일 |
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