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장비 및 시설 기본정보
주사전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Hitachi |
| 모델명 | S-3000N |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2005-03-28 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국섬유소재연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | SEM : 섬유구조 표면 단면 관찰 - EDX : 시료의 표면 성분 분석 Resolution . 고진공 : 3.0nm 이하 at 25kv . 저진공 : 4.0nm 이하 at 25kv Electron Optics . Filament : Tungsten hairpin type - EDX Resolution : 10 mm2 138eVResolution . 고진공 : 3.0nm 이하 at 25kv . 저진공 : 4.0nm 이하 at 25kv Electron Optics . Filament : Tungsten hairpin type - EDX Resolution : 10 mm2 138eV Crystal : SiliconeSEM : 섬유구조 표면 단면 관찰 - EDX : 시료의 표면 성분 분석 저진공 : 4.0nm 이하 at 25kv Electron Optics . Filament : Tungsten hairpin type - EDX Resolution : 10 mm2 138eV |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110130173518.jpg |
| 장비위치주소 | 경기도 양주시 남면 검준길 170 한국섬유소재연구소 본관 3층 실험분석실 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2007-10-012654 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0015704 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |