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장비 및 시설 기본정보
주사탐침현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | ㈜파크시스템스 |
| 모델명 | XE-100 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2006-09-27 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 대구경북과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A208 |
| 표준분류명 | 분석 |
| 시설장비 설명 | Non-Contact Contact Electrostatic Magnetostatic mode available 시료표면의 물리적 특성 평가 및 미세구조 관찰 The XE-100 is our flagship AFM with reduced drift rate and the Step-and-Scan Automation that provides the ultimate AFM/SPM performance in Non-Contact nanoscale metrology. It is a mid-priced system for materials science polymers electrochemistry and other applications in nanoscience and engineering. It can adopt a wide range of optical coupling with its open side access. Artifact Free Imaging by Crosstalk Elimination Two independent closed- loop XY and Z flexure scanners for sample and tip Out of plane motion of less than 2 nm over entire scan range Flat and linear XY scan of up to 100 μm x 100 μm with low residual bow Up to 25 μm Z-scan by high force scanner Accurate height measurements Reduced drift rate of less than 0.5 nm/min Ultimate AFM Resolution by True Non-Contact ModeTM 10 times larger Z-scan bandwidth than a piezotube Less tip wear for prolonged high-quality and high-resolution imaging Minimized samp |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201109/20110901162847.jpg |
| 장비위치주소 | 대구경북과학기술원 2연구동 809호 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2007-01-053067 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0008115 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |