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장비 및 시설 기본정보
주사전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Jeol |
| 모델명 | JSM-5800 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 1996-04-01 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 재료연구소 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | 분석 |
| 시설장비 설명 | 본 장비 주사전자현미경(SCANING ELECTRON MICROSCOPE)는 전자총으로부터 집속 가속된 전자 Beam을 시료 표면에 주사해 시료 로 부터 발생된 2차 전자를 모아서 검출기로 검출한 후 영상화함. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201504/2015040615263796.JPG |
| 장비위치주소 | 재료연구소 연구4동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2000-08-039487 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-KIMS-00073 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |