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장비 및 시설 기본정보
Surface Zeta Potential & Particle Size Analyzer
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Otsuka Electronics |
| 모델명 | ELS-8000 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2004-11-23 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 광주과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B701 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 입경 및 입경분포의 측정: Dynamic Light Scattering 의 원리로 분산상태의 입경 및 distribution을 측정하며 nm 단위의 입자의 크기 및 분포를 알 수 있고 응집이나 침전 유 무를 실시간 모니터 할 수 있는 특징이 있다. - Zeta-Potential 측정 : Electrophoretic Light Scattering 의 원리로 분산 상태에 있는 콜로이드 입자 및 고체 표면의 제타 전위를 측정 할 수 있다. 제타 전위는 부산제의 분산 응집 안정성의 지표가 된다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201101/20110125142126.jpg |
| 장비위치주소 | 광주과학기술원 생명과학동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2006-09-024299 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0013436 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |